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NI发布SC Express传感器测量NI PXIe-4357 RTD模块

美国国家仪器公司(NI)近日发布SC Express传感器测量NI PXIe-4357 RTD模块,扩大了面向PXI Express模块的产品家族。该高性能模块新增Pt100 RTD传感器,优化了温度测量功能,可实现多种热监测应用。
关键词: 传感器
时间:2012-05-22 10:55 来源:物联网在线 作者:企业供稿 点击:

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美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布SC Express传感器测量NI PXIe-4357 RTD模块,扩大了面向PXI Express模块的产品家族。该高性能模块新增Pt100 RTD传感器,优化了温度测量功能,可实现多种热监测应用。

NI PXIe-4357模块将传感器专用的信号调理与24位ADC集成,以100 S / s的采样率,对全部20条通道进行采样,精度最高可达0.09摄氏度。为了扩展系统的通道数,工程师还可集成更多的NI PXIe-4357模块,或使用其它SC Express模块在同一系统中添加辅助传感器输入,包括热电偶、应变计、加速度计和FBG光学传感器。

感言

“我们设计了SC Express,在单个模块上集成信号调理和AD转换,从而提高测量精度和稳定性。”;“SC Express基于PXI Express平台,工程师因此可以轻松地扩展通道数,与其它测量或控制模块同步,满足他们测试应用的具体需求。”——Kevin Schultz,美国国家仪器研发副总裁

产品介绍

NI PXIe-4357 RTD模块

• 提供20条通道,能够集成24位delta-sigma模数转换器与抗混叠和低通滤波器
• 以高达100 S/s/ch的采样率和0.09摄氏度的精度采集数据
• 业界最为可靠的测量,且完全支持LabVIEW实时模块
• 在同一PXI机箱、跨机箱或跨设备,与SC Express产品家族中的其他模块同步

有关此产品的详细信息, 请访问下列页面 http://www.ni.com/sc-express/zhs/

关于NI
自1976年以来,美国国家仪器,简称NI (www.ni.com)一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。 NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。 长期以来,NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展,确保客户、员工、供应商及股东获得成功。 

(责任编辑:zxh007)


本文链接NI发布SC Express传感器测量NI PXIe-4357 RTD模块
http://c.iot-online.com/pro/2012/052219922.html
 
 
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